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產品名稱：日本kett LH-373膜厚計
產品型號：LH-373
產品廠商：日本Kett
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簡單介紹：

日本kett LH-373膜厚計是一款主機與探頭可分離設計的膜厚計，主要用于測試鋁基上的膜厚。如手機鋁合金外殼，鋁氧化等等。日本kett LH-373膜厚計的測試原理：非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（琺瑯、油漆等）

詳情介紹：

日本kett LH-373膜厚計技術參數：

型號 LH-373

測定方法高頻渦流式

測定對象非磁性金屬基體上的絕緣層

測定范圍 0-1200μm

測定精度 <50μm±1μm ，50μm-1000μm±2% ，1000μm-2000μm±3%

分辨率 <100μm為0.1μm ， >100μm為1μm

記憶數據大約3000個

附加功能 1.程序選擇 2.基體修正 3.數據刪除 4.數據統計 5.設定上下限 6.數據統計（測定次數 *大值 *小值標準偏差） 7.語言選擇（中、英、日、韓） 8.日期時間 9.自動關機設定 10.背景燈光選擇 11.背景燈光的時間設定 12.單位 13.數據輸出

測頭點觸式（LHP-J）

顯示方式數字LCD顯示（背光燈可自行選擇開關）

數據輸出電腦輸出（USB或者RS-232C)或者連接打印機

電源 4節1.5V堿性電池

存儲通道有50個通道可供選擇

尺寸重量 75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34Kg

標準配置基體/標準片/4節堿性電池/測頭/皮套

可選配置數據管理軟件（LDL-03)，不同厚度的標準片，打印機VZ-330

型號	LH-373
測定方法	高頻渦流式
測定對象	非磁性金屬基體上的絕緣層
測定范圍	0-1200μm
測定精度	<50μm±1μm ，50μm-1000μm±2% ，1000μm-2000μm±3%
分辨率	<100μm為0.1μm ， >100μm為1μm
記憶數據	大約3000個
附加功能	1.程序選擇 2.基體修正 3.數據刪除 4.數據統計 5.設定上下限 6.數據統計（測定次數大值小值標準偏差） 7.語言選擇（中、英、日、韓） 8.日期時間 9.自動關機設定 10.背景燈光選擇 11.背景燈光的時間設定 12.單位 13.數據輸出
測頭	點觸式（LHP-J）
顯示方式	數字LCD顯示（背光燈可自行選擇開關）
數據輸出	電腦輸出（USB或者RS-232C)或者連接打印機
電源	4節1.5V堿性電池
存儲通道	有50個通道可供選擇
尺寸重量	75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34Kg
標準配置	基體/標準片/4節堿性電池/測頭/皮套
可選配置	數據管理軟件（LDL-03)，不同厚度的標準片，打印機VZ-330

產品名稱：日本kett LH-373膜厚計